测试类别 |
测试项目 |
计费单位 |
单价 |
电气参数测试 |
电气参数测试设备开机费(单次测试量大可减免) |
次 |
1000 |
模块电气参数测试夹具定制 |
件 |
视情况 | |
模块产品常温静态参数测试(VCES<3kV且ICnom<2kA) |
每只每小项 |
100 | |
模块产品常温静态参数测试(3kV≤VCES≤7kV或ICnom≥2kA) |
每只每小项 |
150 | |
模块产品常温动态参数测试(VCES<3kV且50A≤ICnom<2kA) |
每只每大项 |
200 | |
模块产品常温动态参数测试(3kV≤VCES≤7kV或ICnom≥2kA) |
每只每大项 |
250 | |
模块产品高温静态参数测试(VCES<3kV且ICnom<2kA) |
每只每小项 |
150 | |
模块产品高温静态参数测试(3kV≤VCES≤7kV或ICnom≥2kA) |
每只每小项 |
200 | |
模块产品高温动态参数测试(VCES<3kV且50A≤ICnom<2kA) |
每只每大项 |
250 | |
模块产品高温动态参数测试(3kV≤VCES≤7kV或ICnom≥2kA) |
每只每大项 |
300 | |
晶圆产品常温静态参数测试(VCES<3kV) |
每只每小项 |
8 | |
晶圆产品常温静态参数测试(3kV≤VCES≤7kV) |
每只每小项 |
10 | |
芯片产品常温静态参数测试(VCES<3kV) |
每只每小项 |
150 | |
芯片产品常温静态参数测试(3kV≤VCES≤7kV) |
每只每小项 |
200 | |
芯片产品常温动态参数测试(VCES<3kV且ICnom≥50A) |
每只每大项 |
250 | |
芯片产品常温动态参数测试(3kV≤VCES≤7kV且ICnom≥50A) |
每只每大项 |
300 | |
晶圆产品高温静态参数测试(VCES<3kV) |
每只每小项 |
12 | |
晶圆产品高温静态参数测试(3kV≤VCES≤7kV) |
每只每小项 |
15 | |
芯片产品高温静态参数测试(VCES<3kV) |
每只每小项 |
200 | |
芯片产品高温静态参数测试(3kV≤VCES≤7kV) |
每只每小项 |
250 | |
芯片产品高温动态参数测试(VCES<3kV且ICnom≥50A) |
每只每大项 |
300 | |
芯片产品高温动态参数测试(3kV≤VCES≤7kV且ICnom≥50A) |
每只每大项 |
350 | |
热性能测试 |
热敏感系数标定 |
只 |
1500 |
稳态热阻测试 |
只 |
1000 | |
瞬态热阻测试 |
只 |
500 | |
杂散参数测试 |
回路电阻测试 |
只 |
300 |
杂散电感测试 |
只 |
300 | |
结电容测试 |
只 |
1000 | |
绝缘测试 |
交流耐压测试 |
只 |
300 |
抗静电能力测试 |
ESD测试—HBM,MM测试 |
每只每项 |
200 |
ESD测试—CDM测试 |
只 |
400 | |
EMI测试 |
辐射干扰测试 |
小时 |
2000 |
传导干扰测试 |
小时 |
1500 | |
EMI分析报告 |
份 |
500 | |
温度场分布测试 |
硅胶去除及喷漆 |
只 |
1500 |
红外热成像试验 |
小时 |
1500 | |
红外热成像分析报告 |
份 |
500 | |
通电环境应力可靠性测试 |
高温高湿反偏试验(第1小时) |
小时 |
450 |
高温高湿反偏试验(第2小时起) |
小时 |
30 | |
高温反偏试验(第1小时) |
小时 |
450 | |
高温反偏试验(第2小时起,VCES<3kV) |
小时 |
25 | |
高温反偏试验(第2小时起,3kV≤VCES≤7kV) |
小时 |
35 | |
高温门极反偏试验(第1小时) |
小时 |
450 | |
高温门极反偏试验(第2小时起) |
小时 |
30 | |
短时功率循环试验(第1小时) |
小时 |
1000 | |
短时功率循环试验(第2小时起,ICnom≤600A) |
小时 |
100 | |
短时功率循环试验(第2小时起,600A<ICnom≤2kA) |
小时 |
120 | |
短时功率循环试验(第2小时起,ICnom>2kA) |
小时 |
150 | |
长时功率循环试验(第1小时) |
小时 |
1000 | |
长时功率循环试验(第2小时起,ICnom≤600A) |
小时 |
100 | |
长时功率循环试验(第2小时起,600A<ICnom≤2kA) |
小时 |
120 | |
长时功率循环试验(第2小时起,ICnom>2kA) |
小时 |
150 | |
无偏压高温蒸煮试验(第1个小时) |
小时 |
450 | |
无偏压高温蒸煮试验(第2个小时起) |
小时 |
35 | |
偏压高温蒸煮试验(第1个小时) |
小时 |
500 | |
偏压高温蒸煮试验(第2个小时起) |
小时 |
50 | |
非通电环境应力可靠性测试 |
高温存储试验(第1小时) |
小时 |
300 |
高温存储试验(第2小时起) |
小时 |
20 | |
低温存储试验(第1小时) |
小时 |
300 | |
低温存储试验(第2小时起) |
小时 |
30 | |
温湿度试验(第1小时) |
小时 |
300 | |
温湿度存储试验(第2个小时起) |
小时 |
30 | |
温湿度循环试验(第2个小时起) |
小时 |
35 | |
温度冲击试验(第1个小时) |
小时 |
500 | |
温度冲击试验(第2个小时起) |
小时 |
100 | |
高温低气压试验(第1小时) |
小时 |
400 | |
高温低气压试验(第2小时起) |
小时 |
250 | |
盐雾试验(第1小时) |
小时 |
350 | |
基本盐雾试验(第2小时起) |
小时 |
50 | |
饱和湿度循环盐雾试验(第2小时起) |
小时 |
70 | |
控制湿度循环盐雾试验(第2小时起) |
小时 |
100 | |
温度循环试验(第1小时) |
小时 |
300 | |
温度循环试验(第2个小时起/每分钟小于5度) |
小时 |
80 | |
温度循环试验(第2个小时起/每分钟5度) |
小时 |
100 | |
温度循环试验(第2个小时起/每分钟10度) |
小时 |
120 | |
温度循环试验(第2个小时起/每分钟15度) |
小时 |
150 | |
温湿度振动三综合试验(第1小时) |
小时 |
1000 | |
温湿度振动三综合试验(第2个小时起) |
小时 |
500 | |
机械完整性测试 |
振动试验(第1小时) |
小时 |
500 |
振动试验(第2小时起) |
小时 |
350 | |
冲击/碰撞试验 |
次 |
700 | |
高加速寿命测试 |
高加速寿命试验(振动加速度小于80GRMS) |
小时 |
1500 |
高加速寿命试验(振动加速度大于等于80GRMS) |
小时 |
2000 | |
高加速寿命试验分析报告 |
份 |
500 | |
焊接强度测试 |
拉力强度试验(不超过200kgf) |
小时 |
1500 |
拉力强度试验(超过200kgf) |
小时 |
2000 | |
剪切力强度试验(不超过200kgf) |
小时 |
1500 | |
剪切力强度试验(超过200kgf) |
小时 |
2000 | |
非破坏性故障分析 |
超声波扫描显微镜分析(允许样品与液体接触) |
小时 |
1500 |
超声波扫描显微镜分析(不允许样品与液体接触) |
小时 |
2000 | |
超声波扫描显微镜分析报告 |
份 |
500 | |
X射线检测设备开机费 |
次 |
1000 | |
二维X射线检测(最长尺寸小于140mm且管电压不超过160kV) |
小时 |
1500 | |
二维X射线检测(最长尺寸不小于140mm或管电压超过160kV) |
小时 |
2000 | |
三维X射线检测 |
小时 |
2000 | |
X射线检测分析报告 |
份 |
500 |
高频场控功率器件及装置产品质量检验中心