一种基于传导冷却的超导线性能测量装置
专利名称: 一种基于传导冷却的超导线性能测量装置
专利类别: 发明
申请号:
申请日期: 2020.03.26
专利号: 202010222968.4
第一发明人: 孙万硕 王秋良 程军胜 戴银明 胡新宁 陈顺中 王晖 刘建华
其它发明人:
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国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
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专利摘要:
其它备注: